设备名称 |
场发射扫描电子显微镜 (ER-SEM&EDS) |
收费标准 |
纯形貌:200元/样;400元/小时 形貌+能谱:60元/点 喷金:20元/次 元素分析(EDS): |
规格/型号 |
日立*/S-4800 |
性能指标 |
1. 二次电子分辨率:1.0nm (15 kV); 1.4nm(1 kV, WD = 1.5mm, 减速模式);2.0nm (1 kV, WD = 1.5mm, 普通模式) 2. 放大倍数:低倍模式:×20~ ×2,000,高倍模式:×30~ ×800,000 3. 电子枪:冷阴极场发射电子源 4. 加速电压:0.5~30kV 5. 样品台:X: 0~50mm Y: 0~50mm Z:1.5~30mm T: -5~+30° R:360° 6. 信号选择:SE(二次电子)信号,X射线信号 |
主要应用 |
1.材料表面形貌观察:显微结构、尺寸及相互作用、相组成及相分布; 2.材料成分分析:元素定性分析、定量分析、线分析、面分析; 3.可以检测的元素范围B5~U92。 |
样品要求 |
样品不得具有磁性,并且不易被磁化。样品中不得含有水分,高度小于15mm,直径小于30mm。多孔类或易潮解的样品,请提前真空干燥处理。样品能与样品台牢固粘结,具有导电性,若样品不导电,需要进行镀铂导电膜的处理(本中心也提供镀膜服务,但需要另行收费)。同一次装入电镜的样品高度差不要超过1.5mm。 |
仪器说明 |
冷场发射扫描电镜S-4800能实现对各种固态样品表面形貌的观察,获得表面形貌的二次电子像;能对材料学、化学、生物科学等领域的物质表面形貌、尺寸及成分进行分析。 |
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